通过 K 均值聚类算法进行热图像分割：使用 FLIR T420bx 热成像仪捕获面板的热图像。通过对图像进行分割来分析面板的热图像-matlab开发

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HSV、CMY、NTSC、YCbCr 颜色空间不太适合根据人类解释的实用术语来描述颜色。因此，必须将 RGB 热图像转换为 HIS 图像以获得更好的可见性，以识别面板中存在的缺陷。并应用K-means聚类算法对图像进行分割并诊断PV面板中的缺陷参考： Uma，J.，Muniraj，C.和Sathya，N.，“基于热图像测试和评估的光伏（PV）面板缺陷诊断”，《测试和评估杂志》， https：//doi.org/10.1520 /JTE20170653 。 ISSN 0090-3973。

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