射频连接器的寿命试验

上传者: 38589774 | 上传时间: 2022-03-24 15:33:19 | 文件大小: 291KB | 文件类型: -
前言
  对于一条射频测试电缆组件,应用工程师不仅关心其出厂时的指标,而且更加关心其使用寿命。
  射频电缆组件的寿命取决于三个因素:电缆本身的抗弯曲性能,电缆和接头之间的良好连接及其抗弯曲性能,接头的寿命。对于前二项因素,可以采取工装夹具或者规范操作者的动作来保证;而对于接头的寿命,则只能依赖接头本身的质量以及装配工艺来保证了。
  以N型连接器为例,在射频连接器的国际标准,如美军标MIL-C-39012和国际电工委员会IEC 60169-16中,规定了N型(铜材)连接器的插拔寿命是500次。
  是这样描述的:在12圈/每分钟的条件下,少插拔500次,连接器应满足配合要求。而IEC

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