电子测量中的Keithley发布新版测试软件KTEI V6.1
吉时利 (Keithley) 仪器公司，发布6.1版交互式KTEI，暨功能强大的KTEI（吉时利交互式测试环境）测量软件之最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。 脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析，例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域，适用于材料和器件特性分析。 此外，KTEI V6.1集成了用于吉时利3400脉冲发
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