元器件应用中的几种功能电路的BIT测试方案设计及其仿真

上传者: 38574410 | 上传时间: 2022-06-18 15:29:43 | 文件大小: 350KB | 文件类型: PDF
摘 要:BIT 技术是当今最重要的在线故障诊断技术之一,已经被广泛应用于航空电子设备中,在航空领域以外的应用虽然还比较少,但也已经起步。随着电子设备维修性要求的提高以及设备本身要求具备检测隔离故障的能力以缩短维修时间,BIT 在测试领域研究中将越来越重要。功能电路BIT 系统是电子设备整机BIT 系统的重要组成部分,因此从解决实际问题出发,对几种典型的功能电路进行BIT 策略方案设计,并使用Multisim 软件对所设计的BIT 监测电路进行仿真,仿真结果表明,所设计的BIT 电路是可靠及有效的。
  1 引言
  机内自测试,简称BIT(Built In Test),是提高电路系统可测试

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