一种左手超材料的传输损耗分析方法

研究论文

提出了一种分析左手超材料（LHM）传输损耗的方法。作为此方法的证明，研究了由开环谐振器（SRR）和导线组成的LHM的传输损耗。通过检索和分析有效本构参数，研究了不同的传输损耗及其来源。结果表明，由于有效磁导率和介电常数的非零高虚部所引起的高损耗，使得左手带宽变窄。在有效的左手频带中，辐射损耗非常低，可以忽略不计，传输损耗是衬底损耗和欧姆损耗的总和。此外，当基板的介电损耗角正切大于0.003时，基板损耗大于欧姆损耗。

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