TREX自校准步骤介绍

内容概要：本文详细介绍了TREX自校准在西数硬盘维修与恢复中的应用流程和技术原理。自校准是硬盘出厂前的关键步骤，用于调整磁头参数、扫描缺陷并生成高级参数，使其可被系统识别使用。该过程同样适用于修复过保硬盘，尤其是因固件故障或少量坏道导致问题的硬盘。文章解析了自校准的各个阶段，包括Mini Calibration Testing、固件区优化、WRRO测试、ARCO（磁头优化）和PST（缺陷扫描与P表生成）等核心流程，并说明了不同板号和家族硬盘在模块使用上的差异。同时强调了微码兼容性对自校准成功的重要性，以及现代流程在提升出盘率方面的优化。; 适合人群：具备一定硬盘维修基础，从事数据恢复、硬盘固件修复的技术人员，工作1-3年的存储设备工程师； 使用场景及目标：①用于西数硬盘的固件修复与坏道处理；②理解ARCO与PST流程在自校准中的作用；③掌握TREX工具在非工厂环境下实现自校准的方法与限制； 阅读建议：此资源技术性强，建议结合实际操作与TREX工具调试学习，重点关注模块编号与流程对应关系，注意微码匹配问题以避免自校准失败。