VLSI Test Principles and Architectures

上传者: rill_zhen | 上传时间: 2021-03-15 20:26:37 | 文件大小: 4.98MB | 文件类型: PDF
DFT领域一本不错的参考书。中国人写的英文书。

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评论信息

  • shenzhibo :
    VLSI test方面的经典书籍,内容很丰富,DFT, scan, ATGP, BIST, BISR, JTAG都有。台湾大牛写的英文书。清晰pdf
    2020-09-27
  • liuam_2005 :
    谢谢,测试经典书籍哦
    2018-12-27
  • wqs1983 :
    不知道怎么用,只能表示感谢了
    2017-08-21
  • baidu_21389457 :
    上课用的教程,很有用
    2015-12-18
  • hiramlee_ :
    谢谢 很清晰英文原版,很好
    2014-09-29
  • nachtmusik :
    就是我要找的,pdf挺清晰地,中文版的可以买到。
    2014-08-27
  • 小象一只 :
    不是全部,后面有一张是没有的
    2013-11-25
  • u010205226 :
    很清晰英文原版,很好
    2013-07-22

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