Spectroscopic Ellipsometry Principles and Applications

上传者: nczhugoal | 上传时间: 2021-11-09 22:20:33 | 文件大小: 13.59MB | 文件类型: -
介绍椭圆偏振光术测量的原理及其应用。主要涉及光在材料及薄膜表面反射后偏振状态变化及其测量的技术。

文件下载

评论信息

  • butcher22 :
    很好的资料,感谢共享 !
    2016-08-08
  • williamwill100 :
    很不错,关于椭偏光谱仪的资料,有测试原理和实例,值得。。
    2013-05-02
  • xibinke :
    这是好东西,正是我需要的。
    2013-03-05
  • yvetteg :
    非常好的关于椭偏仪的资料,内容很翔实,参考性非常高。amazon上买非常非常地贵哦。
    2012-12-04

免责申明

【只为小站】的资源来自网友分享,仅供学习研究,请务必在下载后24小时内给予删除,不得用于其他任何用途,否则后果自负。基于互联网的特殊性,【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查;无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查,用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场,基于网友分享,根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定,若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员,zhiweidada#qq.com,请把#换成@,本站将给予最大的支持与配合,做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明