JEDEC JESD22-A117E：2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM)

英文电子版JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）。标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范（针对循环计数、持续时间、温度和样本大小），或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。 《JEDEC JESD22-A117E：2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM)》是JEDEC固态技术协会发布的一项标准，它详细定义了EEPROM（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）在程序擦除耐久性和数据保留能力方面的测试方法。该标准旨在确保EEPROM器件在各种条件下能够达到预期的性能，以满足制造商和消费者之间的互换性需求，并促进产品的持续改进。 在标准JESD22-A117E中，重点涵盖了以下几个方面： 1. **程序擦除耐久性**：耐久性测试衡量EEPROM能够在经历多次编程和擦除操作后仍然保持可靠性的能力。根据JESD47中的规定，测试包括确定循环计数、持续时间、温度以及样本大小的参数，以验证器件在这些条件下的长期稳定性。 2. **数据保留能力**：数据保留测试关注的是EEPROM在不供电的情况下保持存储数据的能力。标准定义了测试条件，如温度和时间周期，以确保数据在指定时间内不会丢失或受到破坏。 3. **交叉温度测试**：为了确保器件在不同环境温度下的可靠性，标准还包含了交叉温度测试。这涉及在不同的温度范围内进行编程、擦除和数据保留测试，以验证器件在广泛工作温度范围内的性能。 4. **知识基础方法**：除了JESD47规定的测试方法外，JESD94提供了一种基于知识的方法来制定耐久性和保持性鉴定规范。这种方法可能更灵活，可以根据制造商对器件特性的深入理解来定制测试方案。 5. **标准化流程**：JEDEC标准经过其董事会、法律顾问的审批，并考虑到了国内外市场的需求。通过标准化，JEDEC旨在减少制造商与购买者间的误解，帮助消费者迅速找到合适的设备，无论他们是否是JEDEC成员。 6. **专利免责声明**：JEDEC标准的制定不受任何可能涉及的专利影响，采用标准的各方需自行承担可能存在的专利风险，JEDEC对此不承担任何责任。 7. **符合性声明**：只有满足标准中所有要求的设备才能宣称符合JESD22-A117E标准。任何关于符合性的声明都应基于完整的标准要求。 8. **反馈机制**：对于标准内容的查询、意见或建议，可以直接联系JEDEC或通过其官方网站提交。 《JEDEC JESD22-A117E》为EEPROM器件的制造商提供了全面的测试框架，以确保它们的产品在耐久性和数据保留方面满足行业标准，从而提高产品的质量和用户满意度。这些规定不仅适用于EEPROM的开发和制造，也为采购者选择合适的产品提供了依据。