IEC 60749-9：2017 半导体器件-机械和气候试验方法-第9部分：标记的持久性 - 完整英文版（11页）
完整英文版 IEC 60749-9：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9：Permanence of marking（半导体器件-机械和气候试验方法-第9部分：标记的持久性）。IEC 60749-9:2017 用于确定固态半导体器件上的标记在施加和去除标签或使用溶剂和清洁溶液时，在去除印刷电路上的助焊剂残留物过程中常用的标记是否仍然清晰可辨 板制造过程。此测试适用于所有包装类型。 它适用于资格和/或过程监控测试。 该测试被认为是非破坏性的。 电气或机械剔除可用于此测试的目的。
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