JEDEC JESD22-A119A：2015 Low Temperature Storage Life（低温储存寿命 ）- 完整英文电子版（7页）
本测试适用于所有固态设备的评估，筛选，监视和/或鉴定。低温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备（包括非易失性存储设备）的热激活故障机制（数据保留故障机制）的影响。 在测试过程中，在不施加电应力的情况下使用了降低的温度（测试条件）。 此测试可能具有破坏性，具体取决于时间，温度和包装（如果有）。
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