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IEC 61189-5-504:2020 PCB工艺离子污染试验(PICT) - 最新的完整英文版
IEC 61189-5-504:2020 PCB工艺离子污染试验(PICT) - 最新的完整英文版
上传者:
Johnho130
|
上传时间: 2021-02-07 20:02:43
|
文件大小: 11.16MB
|
文件类型: PDF
iec
iec61189
pcb
离子污染
最新的英文版IEC 61189-5-504:2020是一种测试方法,旨在确定存在于电路板,电子元件或组件上的可溶性离子残基的比例。 测量用于溶解离子残基的溶液的电导率,以评估离子残基的水平。使用IPC-TM-650、IPC 9202和IPC-9203中描述的SIR / ECM测试方法表征电路板或组装过程.
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