JEDEC JESD22可靠性测试标准集(包含全部38份最新英文电子版标准文件) - 20220210.rar

上传者: Johnho130 | 上传时间: 2022-02-11 11:02:01 | 文件大小: 15.5MB | 文件类型: RAR
包含JESD22-Axxxx和JESD22-Bxxxx两个系列全部共38份最新英文电子版标准文件, 如: 1, JEDEC JESD22-A100E:2020 循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试 2, JEDEC JESD22-A120C:2022 电子设备用有机材料中水分扩散率和水溶性测量的试验方法 3, JEDEC JESD22-B109C:2021 Flip Chip Tensile Pull(倒装芯片拉伸强度) 4, JEDEC JESD22-B118A:2021 半导体晶圆和芯片背面外部视觉检测 ..... 具体也可参照Blog: https://editor.csdn.net/md/?articleId=117413710

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