完整英文版 IEC 60749-28：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28：Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level （半导体器件-机械和气候测试方法：静电放电（ESD）敏感性测试-带电设备模型（CDM）-设备级 ）。IEC 60749-28:2017(E)规定了根据器件和微电路暴露于定义的场致带电设备模型(CDM)静电放电(ESD)时对其损害或退化的易感性(敏感性)进行测试、评估和分类的程序。所有封装的半导体器件、薄膜电路、表面声波（SAW）器件、光电子器件、混合集成电路（HIC）以及包含任何这些器件的多芯片模块（MCM）都将根据本文件进行评估。为了进行测试，这些器件被组装成与最终应用中预期的类似的封装。本CDM文件不适用于插座式放电模型测试器。
2021-07-13 09:04:08
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1. 作者提出了高阶DINA模型：HO-DINA。该模型认为学生得知识点掌握情况受高阶参数得影响，比如学生得学习能力。
2. 论文阐述了如何使用MCMC方法对HO-DINA模型进行参数估计，并基于分数减法数据集进行了测试
2021-06-30 14:45:15
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oracle 课程设计 人力资源管理系统 程序+文档+数据库+PDM、CDM
第一章 引言 1
1.1. 系统描述 1
1.2. 项目背景 1
第二章 需求分析 3
2.1. 机构管理需求 3
2.2. 岗位管理需求 3
2.3. 人事管理需求 3
第三章 系统业务流分析 5
1.1. 功能模块图 5
1.2. 人事管理业务处理流程 5
1.3. 薪资管理业务处理流程 7
1.4. 离职管理业务处理流程 7
1.5. 职位变更业务处理流程 8
1.6. 培训管理业务处理流程 9
第四章 系统数据库对象设计 10
4.1. 系统数据字典 10
4.2. 数据库概念模型（CDM）设计 11
4.3. 数据库概念模型（PDM）设计 11
4.4. 系统E-R图 12
第五章 系统实现 13
5.1. 登录功能 13
5.2. 部门管理 13
5.3. 员工管理 17
5.4. 角色管理 20
第六章 个人总结 24
参考文献 24
2021-06-26 08:12:54
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这是ESD测试标准合并之后的新标准CDM测试方法，仅供个人学校研究，里面包含了测试设备电路的波形验证和具体的测试规范方法，里面还有具体的测试组合的方法。
2021-06-15 16:04:33
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完整英文电子版ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level (用于静电放电敏感度测试 - 带电设备模型（CDM） - 设备级别 )。
本文档的目的（目标）是建立一种测试方法，该方法将复制CDM故障并在测试仪之间提供可靠，可重复的CDM ESD测试结果，而与设备类型无关。 可重复的数据将允许对CDM ESD敏感度等级进行准确的分类和比较。
2021-05-11 09:04:10
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