IEC61000-4-3 RS测试方法

嵌入式软件可靠性测试方法 本标准规定了嵌入式软件生存周期内软件产品的可靠性测试方法、过程和准则。 本标准适用于嵌入式软件生存周期全过程，可用于嵌入式软件测试中的可靠性增长测试和可靠性确认测试要求。

ESD测试标准 This International Standard relates to the immunity requirements and test methods for electrical and electronic equipment subjected to static electricity discharges, from operators directly, and to adjacent objects. It additionally defines ranges of test levels which relate to different environmental and installation conditions and establishes test procedures. The object of this standard is to establish a common and reproducible basis for evaluating the performance of electrical and electronic equipment when subjected to electrostatic discharges. In addition, it includes electrostatic discharges which may occur from personnel to objects near vital equipment.

本文 描述了ESD静电贴环境的搭建，ESD测试标准和ESD的测试方法

1．引言 　　随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，FLASH型存储器的用量迅速增长。FLASH芯片由于其便携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场的需求催生了一大批FLASH芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高速和细致地测试，因此，高效FLASH存储器测试算法的研究就显得十分必要。 　　不论哪种类型存储器的测试，都不是一个十分简单的问题，不能只将存储器内部每个存储单元依次测试一遍就得出结论，这是因为每一个存储单元的改变都有可能影响存储器内部其他单元的变化（这种情况又是常常发生的）。这种相关性产生了

EPON系统测试

回归测试，有什么高效的测试方法-.docx

刚开始学习操作一个8*8的点阵，可能会很天真的以为两排引脚一排是行一排是列，于是一排对应一个I/O口接到单片机上了。然而半天调试不出想要的结果。搞到现在才知道引脚不是那样简单的一排就是行另一排就是列。

FDD直放站安全及EMC测试方法

通过在回路中注入小信号来分析整个回路的环路特性。注入DSP的信号由直流大信号和交流小信号组成。直流大信号主要为LLC提供稳定的工作点。