反射面天线增益的快速估算

VSWR驻波比与反射损耗的关系

TFT（Thin Film Transistor）LCD即薄膜场效应晶体管LCD,是有源矩阵类型液晶显示器（AM-LCD）中的一种。 液晶平板显示器，特别TFT-LCD,是目前在亮度、对比度、功耗、寿命、体积和重量等综合性能上全面赶上和超过CRT的显示器件，它的性能优良、大规模生产特性好，自动化程度高，原材料成本低廉，发展空间广阔，将迅速成为新世纪的主流产品，是21世纪经济增长的一个亮点。和TN技术不同的是，TFT的显示采用"背透式"照射方式--假想的光源路径不是像TN液晶那样从上至下，而是从下向上。这样的作法是在液晶的背部设置特殊光管，光源照射时通过下偏光板向上透出。由于上下夹层的电极改成F

弱光栅可以做成弱反射全光栅、弱反射准分布式光栅以及声学测量DAS增强型光栅(soundAGF®)

理论分析了一种将微环谐振器阵列与马赫曾德尔干涉仪(MZI)相结合实现的反射型滤波器结构。将此结构类比为两类四端口网络级联模型,利用传输矩阵法推导出其通用函数形式,并给出单环及三环结构下的能量反射系数具体公式。通过传输函数矩阵模拟计算了取不同耦合系数值情况下的反射谱形变化,给出了原因分析及讨论。并模拟了引入传输损耗对三环结构谐振峰反射率的影响。数值结果表明：适当选取直波导与微型环以及微型环间耦合系数幅值时,此结构能够作为反射型滤波器件应用于密集波分复用(DWDM)系统,也可实现激光器反射镜面的功能;由于传输损耗增加而引起的谐振峰反射率下降程度依赖于所选取的耦合系数值。

基于完美反射和灰度世界的试纸颜色校正与识别方法.pdf

华为路由反射器RR全解析.doc

针对传统多光谱成像颜色测量系统光谱反射率重建算法计算量大、操作繁琐耗时、成本高等缺点，提出一种由LED主动照明光源和黑白高速相机构建的多光谱成像颜色测量系统。采用多个单色LED拟合出相对光谱功率分布与相机光谱灵敏度曲线成倒数关系的照明光源，并利用黑白相机的输出响应直接重建物体的光谱反射率。实验结果表明，与分光光度计测量结果相比，该方法测量Macbeth ColorChecker 24标准色卡的光谱反射率的平均误差在2.3个CIELAB色差左右。该系统具有原理简单可行、不需要滤光片、光谱反射率重建算法简单快速等优点。

详细总结了以上四种方式实现底部导航以及使用Tablayout实现顶部导航，也即是双导航

为了优化配煤,提高镜质体反射率测试精度,以MSP UV-VI2000型光度计为例,介绍了测定镜质体反射率的原理和测试流程。推导出了测定反射率的通用公式和专用公式。对2种公式进行比较发现:专用公式需要校准设备,过程繁琐。通用方法具有普遍适用的特点,其基本步骤为人工读数,做曲线,计算反射率值,绘制直方图。根据公式,分析了工作曲线的最大量程,反射率的分辨能力。重点比较分析了不同斜率的2条光度计工作曲线以及在测试过程中如何选择工作曲线。最后提出了光度计测定镜质体反射率应遵循的原则。