1、NASA MDP 软件缺陷数据集介绍：软件缺陷预测研究中心广泛应用NASA公布的NASA IV＆V Facility Metrics Data Program(MDP)数据集。 MDP包括 13个不同的数据集，这些数据均来自NASA 的13个实际软件项目，由最常见的开发语言编写。每个数据集包含来自不同软件项目的若干模块，规模从 125个模块到 17186 个模块不等。各个数据集由LOC、McCabe、Halstead等几类度量元属性和是否包含缺陷的类别标记（defective）组成。MDP数据集所提供的记录，一行代表一个模块，每个字段对应一个属性。 2、NASA MDP 数据集是软件缺陷预测使用的数据集； 3、该数据集是向官方索取的，包含13个数据集文件，用于实验研究； 4、数据集文件格式是arff格式。

内含风力涡轮机叶片缺陷图像数据集，数据集总数几百张左右，分割标签，可用于图像识别、图像处理、深度学习、目标检测、计算机视觉等领域。 下载的txt文件含有下载链接，放心下载！！！

1、数据集共包含435张毛巾缺陷训练图片，435个voc格式标签（.xml），435个yolo格式标签（.txt），数据可用于毕设缺陷检测。 2、数据可以另外做数据增强，需要数据增强脚本的可以私信或留言。 3、有问题可以留言私信。

晶圆图的缺陷识别对于确定晶圆缺陷成因至关重要，特别是混合模式缺陷。我们在某晶圆制造厂采集了大量的晶圆图数据，这些晶圆图是通过对晶圆片上的每一个晶粒进行电学性能测试得到。但实际采集到各类型的晶圆图在数量分布上存在较大差异，为了保持各类型数据间的平衡，我们采用对抗生成网络生成了部分晶圆图。最终形成了约38000张的混合模式晶圆图缺陷数据集，用于识别混合模式晶圆图缺陷，并辅助晶圆制造工艺中缺陷成因的研究。 Wafer_Map_Label.bin Wafer_Map_Data.bin

香港 织物疵点库.rar

该工业缺陷数据集包含70个类，5000多张图象，有木材，瓷砖，织物，药品，螺丝，半导体，牙刷等。

缺陷检测/瑕疵检测数据集。包含瑕疵图片的训练集和验证集。