本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。
2022-10-08 16:31:47 94KB 通用电子测量
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2022-06-02 14:04:37 45KB 综合资源
在win7和vista下面安装时要先修改兼容性,在XP兼容模式下安装。
2022-05-27 10:02:50 9.01MB DSP芯片 CCS
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2022-01-13 10:35:53 107.68MB rk3399 开发资料
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2021-11-10 08:57:45 5.65MB RDA GPRS 蓝牙
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