24实验设计:中心复合设计,全因子设计,拉丁超立方体设计,D-optimal和maxmin设计。代理:克里金法,多项式响应面,径向基神经网络和支持向量回归。错误和交叉验证的分析:留一法和k折交叉验证,以及经典的错误分析(确定系数,标准误差;均方根误差等;)。基于代理的优化:高效的全局优化(EGO)算法。其他能力:通过安全裕度进行全局敏感性分析和保守替代。
使用 Barten 模型计算输入空间频率的对比敏感度值。 输入参数包括空间频率(周期/度)、显示亮度(cd/m2)、周围亮度(cd/m2)和视野(度)。 参考:P. Barten,“人眼对比敏感度公式”,Proc。 SPIE 5294, 231–238 (2003)。 作者:Zong Qin (qinzong.wnlo@gmail.com) 来自台湾国立交通大学
2021-08-31 11:11:34 2KB matlab
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本标准规定了控制军用电子、电气、机电等设备和分系统的电磁发射和敏感度特性的要求,为研制和订购单位提供电磁兼容性设计和验收的依据。
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行业分类-物理装置-基于敏感度分层的多敏感属性隐私保护方法及系统.zip
CST线缆串扰XT、辐射发射RE、辐射敏感度RE仿真流程
2021-07-31 15:57:06 1.42MB CST 仿真
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GJB 151B-2013 军用设备和分系统 电磁发射和敏感度要求与测量.本标准规定了军用电子、电气及机电等设备和分系统电磁发射和敏感度的要求与测试方法。适用于军用设备和分系统的论证、设计、生产、试验和订购。内容完整清晰,和论坛5.12M那个版本比较,最后几页也是清晰的。论坛里有个48积分的太高了,本文档低积分可下。
2021-07-22 12:29:41 22.01MB EMC GJB 151B
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完整英文版 ANSI/ESD SP5.4.1-2017 For Latch-up Sensitivity Testing of CMOS /BiCMOS Integrated Circuits - Transient Latch-up Testing - Device Level( 用于CMOS BiCMOS集成电路的闩锁敏感度测试 - 瞬态闩锁测试 - 器件级)。本文档介绍了在明确定义的条件下执行瞬态闩锁 (TLU) 特性所需的步骤。它定义了被测设备 (DUT) 的预处理、施加应力脉冲、检测闩锁和确定故障标准。此外,还描述了验证测试设备的程序。测试方法使用户能够通过可靠且经过验证的测试设置执行特定于应用程序的 TLU 表征。
2021-07-13 17:03:23 1.14MB ESD SP5.4.1 集成电路 闩锁
完整英文版 ANSI/ESD STM 5.5.1:2016 For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Transmission Line Pulse (TLP) - Device Level (用于静电放电敏感度测试--传输线脉冲(TLP)--器件级)。本文件的目的是为测试和报告与传输线脉冲(TLP)有关的信息建立一种方法。本文件的目的是为测试和报告与传输线脉冲(TLP)测试有关的信息建立一套方法。本文件包括应用准矩形脉冲的TLP系统,其脉冲宽度和上升时间范围很广。所有这些系统都被称为TLP系统。
2021-07-13 09:04:09 1.51MB ESD STM5.5.1 传输线脉冲 TLP
差分隐私关于局部敏感度的整理.docx
2021-07-10 18:00:11 36KB 差分隐私
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gjb 151b-2013 军用设备和分系统 电磁发射和敏感度要求与测量
2021-07-10 16:39:43 5.12MB GJB 电磁 兼容
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