WM-811K_semiconductor_wafer_map_pattern_classified
资料介绍
WM-811K是半导体数据集,您可以从或下载
在半导体中,存在很多Craft.io问题,而CP良率,WAT(晶圆接受测试)和Particle的晶圆图模式可以帮助工程师找到一些线索。
但是,存在一个大问题,即如何在无需人工操作的情况下将晶圆地图图案分类为服务器组。 有很多论文对此问题进行了调查,在这里,我将展示应用深度学习的结果。
数据中有811457张图像,但只有172950张带有手动标签的图像(总共9个标签:0、1、2、3、4、5、6、7、8)。 在172950张图像中,标签:8(无图案)占85.2%。
另一个剩余模式(14.8%)是
中心:4294(2.5%)
甜甜圈:555(0.3%)
边缘位置:5189(3.0%)
边环:9680(5.6%)
位置:3593
2021-08-14 14:59:25
1.06MB
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