完整英文电子版 AEC-Q100-011D：2019 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test （带电设备模型（CDM） 静电放电测试 ）。本规范的目的是建立一个可靠且可重复的程序，以确定集成电路器件的 CDM ESD 灵敏度。
2021-07-14 14:01:58
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完整英文版 IEC 60749-28：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28：Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level （半导体器件-机械和气候测试方法：静电放电（ESD）敏感性测试-带电设备模型（CDM）-设备级 ）。IEC 60749-28:2017(E)规定了根据器件和微电路暴露于定义的场致带电设备模型(CDM)静电放电(ESD)时对其损害或退化的易感性(敏感性)进行测试、评估和分类的程序。所有封装的半导体器件、薄膜电路、表面声波（SAW）器件、光电子器件、混合集成电路（HIC）以及包含任何这些器件的多芯片模块（MCM）都将根据本文件进行评估。为了进行测试，这些器件被组装成与最终应用中预期的类似的封装。本CDM文件不适用于插座式放电模型测试器。
2021-07-13 09:04:08
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依据单粒子轨道理论和偶极磁场模型定性分析中高能带电粒子在近地区域的运动过程,并利用MATLAB对地磁场捕获带电粒子的基本原理进行数值模拟。结果表明,地球的磁镜结构可以将一定角度射入的带电粒子束缚在其中,粒子的漂移运动速度大小取决于粒子的能量,能量越大的粒子其漂移速度越大;磁镜点的磁感应强度大小由粒子的抛射角决定,随着抛射角增大磁镜点的磁感应强度先快速减小然后趋于不变,当抛射角小于1.11°时,带电粒子在反射前将损失在大气层中。
2021-06-21 18:08:43
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