本文应用干涉技术测量高双折射偏振保持光纤中模式耦合点的空间分布.测量系统由采用宽带半导体激光器作为光源的调制迈克尔逊干涉仪组成,通过光程扫描方法探测沿高双折射光纤分布的模式耦合点.

本文介绍了用干涉显微镜对表面粗糙度检测时干涉条纹的计算机处理过程,其中采用灰度阈值分割法进行干涉图像二值化处理,采用边界描迹法萃取干涉条纹边界线.可对高度偏差≤λ/2的表面粗糙度进行测量.

为了解决空间载波相移(SCPS)法中载波频率不确定引入的误差,提出了一种基于最小二乘迭代的空间载波相移算法。先将单幅随机空间载波频率干涉图转化成四幅随机相移量的时域干涉图,然后用最小二乘迭代求得相位信息。模拟计算和实验结果表明,该算法只需10次左右的迭代计算就可实现算法峰值(PV)精度优于λ/20,均方根(RMS)精度优于λ/200,高于快速傅里叶变换(FFT)法; 通过提高空间载波频率,使载波方向接近45°或135°可提高该算法的精度。

量块支撑与安装方式对坐标测量机尺寸测量示值误差的影响已经越来越引起重视，尤其对于线性测量精度为0.6 μm+1000/L以上的计量型坐标测量机量块安装姿态对校准结果的影响不可忽略。利用单频激光干涉仪作为测量仪，通过专用变形量测量系统，测量量块在不同姿态下支撑位置对量块中心长度的影响。提出利用多点支撑法，减小量块长度变化量的测试方案。实验结果表明，采用多点支撑法测得量块最大变形量为+0.21 μm，并根据对坐标测量机尺寸测量示值误差测量结果不确定度分析，重新计算其标准不确定度为0.75 μm。

传统光学非均匀性测量方法无法避免样品表面平行度、表面面形和系统误差所造成的影响。基于洛伦兹洛伦茨色散公式，对材料的光学非均匀性与光波长的关系进行了分析，发现不同光波长下的光学非均匀性之差远小于实际应用中对光学元件光学非均匀性的精度要求。根据这一分析结果及材料的色散特性，提出了采用双波长相移干涉实现光学非均匀性绝对测量的方法，给出了测量原理与实现方法，并通过计算机模拟实验和光学实验验证了该方法的正确性与可行性。

干涉测量技术以光的波长为度量单位，具有高精度、高灵敏度、和非接触的特点。特别是20世纪70年代以来，干涉测量技术与现代激光技术、电子技术和计算机技术相结合，极大地提高了测量精度和重复性。干涉测量已成为实现光学元件面形及微形貌，光学系统波像差，光学材料折射率、应力双折射等参数高精密检测的主要手段。超精密干涉测量仪器与系统已成为Zygo、Zeiss、Nikon、4D Technology、QED等企业的核心业务之一。

雷达干涉测量（INSAR）是近十几年来非常活跃的研究领域，其一般理论日益成熟，应用前景颇为看好。《雷达干涉测量：原理与信号处理基础》结合作者多年来从事雷达遥感和INSAR技术研究的成果和实际经验，力图兼顾入门性和前沿性两方面，首先阐述《雷达干涉测量：原理与信号处理基础》的学科背景以及INSAR技术的发展、现状和存在的主要问题。然后在介绍雷达遥感的相关知识和SAR影像主要特点的基础上，系统地论述了雷达干涉测量技术的基本原理、成像模式、数据获取与数据处理的一般步骤等，并进一步探讨高程提取的理论精度、立体视觉与雷达干涉成像的联系与区别，试图从不同的角度理解干涉成像的原理。在数据处理和相关的算法方面，着重论述了复数INSAR影像对的自动配准、抑制干涉图噪声、相位解缠和数字高程信息提取等关键技术和实施算法等。对于每一个技术环节，尽量兼顾多种算法或实施途径，并进行分析对比，给读者提供多方面的理解。最后还介绍了INSAR技术的重要应用之一的差分干涉技术的基本原理和应用

星载合成孔径雷达干涉测量方面很好的入门书。

合成孔径雷达在测量方面的应用，基本的原理，适合初学者。

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