在电子设计自动化（EDA）领域，验证是集成电路（IC）设计流程中的关键步骤。一个有效的测试平台（Testbench）验证计划对于确保设计满足其预定功能至关重要。本文将深入探讨“编写测试平台验证计划”的相关知识点，帮助理解如何系统地进行验证工作。 1. **验证计划的目的**： - 确保设计的正确性：验证计划的目标是通过一系列测试用例检查设计的功能和性能，确保其符合规格要求。 - 提前发现错误：在设计阶段发现并修复问题比在流片后或产品上市后更经济有效。 - 管理验证过程：验证计划为团队提供指导，确保所有必要的测试覆盖范围得到充分考虑。 2. **验证方法学**： - UVM（Universal Verification Methodology）：UVM是一种基于SystemVerilog的行业标准验证方法学，提供了用于构建可重用、可扩展和可配置的验证环境的组件和类库。 - OVM（Open Verification Methodology）：OVM是UVM的前身，也是基于SystemVerilog的一种验证方法学，尽管已不再更新，但许多现有的验证环境中仍可见其身影。 3. **测试平台（Testbench）架构**： - 功能覆盖率驱动：设计测试平台应以实现尽可能高的功能覆盖率为目标，这通常通过收集和分析覆盖点来完成。 - 分层结构：包括激励生成器（随机化）、DUT（Design Under Test）接口、监控器、代理、断言以及覆盖率收集器等组件。 4. **验证计划的关键元素**： - 验证目标：明确设计需要验证的特性、功能和性能指标。 - 测试用例策略：定义如何创建和执行测试用例，包括边界条件、异常情况和典型操作。 - 验证环境：描述如何构建和组织测试平台，包括DUT接口、激励生成器、响应处理和覆盖度评估。 - 覆盖率目标：设定功能、代码和行为覆盖率的最低阈值。 - 验证计划与进度：制定详细的验证任务和时间表，确保按期完成。 - 重用和可扩展性：考虑如何设计测试平台以支持未来的修改和扩展。 5. **验证计划文档**： - 包含上述所有元素的详细描述，确保团队成员理解验证目标和过程。 - 描述如何评估验证结果，包括覆盖率分析和回归测试策略。 - 明确责任分配，指出每个团队成员在验证过程中的角色。 6. **验证计划的实施**： - 设计和实现测试用例，根据验证计划执行测试。 - 追踪和报告测试结果，对未通过的测试进行调试和修复。 - 定期评估覆盖率，确保达到预定目标。 7. **持续改进**： - 在验证过程中，不断优化测试平台，提高效率和效果。 - 定期回顾验证计划，根据实际经验进行调整。 总结来说，编写测试平台验证计划是一个全面且系统的过程，涉及到验证方法学的选择、测试平台的构建、验证策略的制定以及覆盖率的评估等多个方面。一个良好的验证计划能够确保设计的高质量，降低风险，并提高团队的工作效率。在实践中，应不断学习和适应最新的验证技术和工具，以保持竞争力。

《验证计划：ASIC设计的关键步骤》 验证计划是ASIC设计过程中的重要环节，它相当于设计团队的功能规格说明书，但由验证团队编制。整个项目团队，包括架构、实施团队，都需要遵循这一计划，确保验证工作的全面性和准确性。在项目执行阶段，验证计划作为一个提醒工具，明确项目的目标、需求和进度指标。 验证计划的主要目标可以归纳为以下几个方面： 1. 全面覆盖项目中的各个组件和设计：这包括对架构特性、低层次测试和组件的识别与文档化，以及硬件、IP和软件组件之间的集成。计划应详细描述从功能特性中提取的各项要点。 2. 文档化环境的结构和组成部分：清晰地呈现验证环境的框架，有助于团队理解和构建验证环境。 3. 作为验证进度的检查列表：标记未覆盖的点，以便跟踪项目的完成度。 4. 维持验证团队的稳定性：随着项目的动态发展，计划需要更新以反映对验证的影响，让团队明白哪些组件已验证，哪些仍待进行。 5. 协调验证团队的工作努力：通过明确的计划，确保团队的工作方向一致，提高工作效率。 验证计划的执行通常分为以下几个阶段： 1. 确定验证项目的目标：如信心建立、策略制定，为验证的完整性提供指导。 2. 列出项目的所有功能，从高层次到低层次，确保全面覆盖。 3. 开发验证环境：对于模块级别采用自底向上方式，系统或子系统级别采用自顶向下方式。识别共享的验证组件、IP或适用的现有资源，构建一个早期组件能在后期环境中适应的结构，最大化共用资源的复用。 4. DUV（Design Under Verification）的分区：由于验证工作需要大量的实施工作，每个被验证的分区必须有相对稳定的接口和预期功能。根据规格书来定义这些接口和功能，以确保每个分区的验证有效性。 验证计划的成功执行，不仅可以确保ASIC设计的质量，还能提高团队协作效率，降低风险，并为项目的成功交付提供坚实保障。因此，一个详尽而灵活的验证计划是ASIC设计过程中不可或缺的一部分。

在电子设计自动化（EDA）领域，AXI (Advanced eXtensible Interface) 是一种广泛使用的高性能、低延迟的片上系统（SoC）互连总线标准，由ARM公司提出。AXI Lite是AXI协议的一个子集，适用于简单的控制接口，如寄存器访问。在本主题中，我们将深入探讨如何实现AXI Lite协议，并使用Xilinx Verification IP（VIP）来验证自定义设计的AXI Lite Slave和Master端。 理解AXI Lite协议的关键要素至关重要。AXI Lite主要包含两个通道：写地址（Write Address Channel）和读地址（Read Address Channel）。它不包含数据和响应通道，因为它是为简单的读/写操作而设计的。每次传输只涉及单个32位或64位字的数据，且不支持突发传输。协议规定了时序、握手信号以及错误处理机制。 设计AXI Lite协议电路通常涉及以下步骤： 1. 定义接口：明确接口上的信号，如AWADDR（写地址）、ARADDR（读地址）、WDATA（写数据）、RDATA（读数据）、BRESP（写响应）、RRESP（读响应）等。 2. 实现协议逻辑：根据AXI Lite规范，编写状态机来处理各种事务，确保正确响应握手信号。 3. 错误处理：设计适当的错误检测和报告机制，例如非法地址访问、总线冲突等。 Xilinx Verification IP（VIP）是用于验证设计的工具，它提供了AXI协议的参考模型，可以加速验证过程，提高覆盖率。使用Xilinx VIP进行验证，你需要： 1. 配置VIP：根据你的设计配置VIP参数，如地址宽度、数据宽度等。 2. 连接VIP：将VIP与你的设计连接，设置必要的接口信号。 3. 编写测试平台：创建一个测试平台，生成随机或预定的激励来驱动VIP，并捕获设计的响应。 4. 分析结果：通过VIP的事件和覆盖报告，分析测试结果，确保设计符合AXI Lite协议规范。 在文件"axi_vip_test"中，很可能包含了使用Xilinx VIP进行测试和验证的相关脚本和配置文件。这些文件通常包括测试平台的VHDL或Verilog代码、VIP的配置文件以及测试用例。你可以通过运行这些测试来验证你的AXI Lite Slave和Master端设计是否正确实现了协议规范。 实现AXI Lite协议并使用Xilinx VIP进行验证是一项复杂但重要的任务，它涉及到硬件描述语言编程、协议理解和测试平台设计。通过深入理解AXI Lite协议和熟练使用Xilinx VIP，你可以确保你的SoC设计中的接口功能正确且高效。

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具有APB-BFM的DAC和ADC模型的UVM验证 这是一个小组项目。 具有APB BFM（总线功能模型）的UVM验证，已连接到两个只读DAC和两个只读ADC从器件。 该序列生成地址，并允许驱动程序告诉BFM选择哪个从站。 随后，四个监视器和记分板记录每个从站的测试结果。 top.sv顶部模块，包括测试，序列项，定序器和驱动程序 seq.svh序列 bfm_env.svh总线功能模型作为环境 intf.svh dac介面 adc_intf.svh adc接口 dac.sv给定的dac adc.sv给定的adc monitor1.svh DAC1监视器 monitor2_dac.svh DAC2监视器 monitor1_adc.svh ADC1监视器 monitor2_adc.svh ADC2监视器 记分板1.svh DAC1记分板 scoreboard2_dac.svh DAC2记分

Experimental verification of the field synergy principle，马良栋，李增耀，In this paper, the basic idea of the field synergy principle (FSP) is briefly reviewed and is validated experimentally by incompressible flow through a square duct with an imposed

Basic of Layout Verification

Preface................................................................................................ vii Part I: RF Circutis: wide band, Front-Ends, DAC’s Introduction ........................................................................................ 1 Ultrawideband Transceivers John R. Long ...................................................................................... 3 High Data Rate Transmission over Wireless Local Area Networks Katelijn Vleugels................................................................................ 15 Low Power Bluetooth Single-Chip Design Marc Borremans, Paul Goetschalckx ................................................. 25 RF DAC’s: output impedance and distortion Jurgen Deveugele, Michiel Steyaert................................................... 45 High-Speed Bandpass ADCs R. Schreier .......................................................................................... 65 High-Speed Digital to Analog Converters Konstantinos Doris, Arthur van Roermund........................................ 91 Part II: Design Methodology and Verification for RF and Mixed-Signal Systems Introduction ........................................................................................ 111 Design Methodology and Model Generation for Complex Analog Blocks Georges Gielen................................................................................... 113 Automated Macromodelling for Simulation of Signals and Noise in Mixed-Signal/RF Systems Jaijeet Roychowdhury ........................................................................ 143 A New Methodology for System Verification of RFIC Circuit Blocks Dave Morris........................................................................................ 169 Platform-Based RF-System Design Peter Baltus ........................................................................................ 195 Practical Test and BIST Solutions for High Performance Data Converters Degang Chen ...................................................................................... 215 Simulation of Functional Mixed Signal Test Damien Walsh, Aine Joyce, Dave Patrick ......................................... 243 Part III: Low Power and Low Voltage Introduction ........................................................................................ 249 The Effect of Technology Scaling on Power Dissipation in Analog Circuits Klaas Bult ........................................................................................... 251 Low-Voltage, Low-Power Basic Circuits Andrea Baschirotto, Stefano D’Amico, Piero Malcovati ................... 291 0.5 V Analog Integrated Circuits Limits on ADC Power Dissipation Ultra Low-Power Low-Voltage Analog Integrated Filter Design Wireless Inductive Transfer of Power and Data Robert Puers, Koenraad Van Schuylenbergh, Michael Catrysse, Bart Peter Kinget, Shouri Chatterjee, and Yannis Tsividis........................ 329 Boris Murmann .................................................................................. 351 Wouter A. Serdijn, Sandro A. P. Haddad, Jader A. De Lima ............ 369 Hermans ............................................................................................. 395

UVM Book Examples A Practical Guide to Adopting the Universal Verification Methodology UVM Second Edition A guide book for UVM

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