摘 要:分析了功率MOSFET 最大额定电流与导通电阻的关系,讨论了平面型中压大电流VDMOS器件设计中导通电阻、面积和开关损耗的折衷考虑,提出了圆弧形沟道布局以增大沟道宽度,以及栅氧下部分非沟道区域采用局域氧化技术以减小栅电容的方法,并据此设计了一种元胞结构。详细论述了器件制造过程中的关键工艺环节,包括栅氧化、光刻套准、多晶硅刻蚀、P 阱推进等。流水所得VDMOS 实测结果表明,该器件反向击穿特性良好,栅氧耐压达到本征击穿,阈值电压2.8V,导通电阻仅25m Ω,器件综合性能良好。   1 引言   功率金属- 氧化物- 半导体场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极晶体管(IGBT)、
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CollMOS设计技术资料CoolMOS与VDMOS的差异优缺点及参数及选用等资料 600V-CoolMOS优化设计.pdf Cool-MOSFET与的其他MOSFET的区别.doc Cool-MOS的优缺点.docx CoolMOS与VDMOS的差异.pptx CoolMOS与VDMOS的通态电阻比较.pdf COOLMOS与普通VDMOS的差异及应用建议-电源网.pdf CoolMOS的主要参数及选用.pdf Coolmos的选择与优势.docx VDMOS-详细培训教案.ppt
2021-12-12 09:08:52 9MB CoolMOS VDMOS的差异 CoolMOS优化设计
摘 要:分析了功率MOSFET 额定电流与导通电阻的关系,讨论了平面型中压大电流VDMOS器件设计中导通电阻、面积和开关损耗的折衷考虑,提出了圆弧形沟道布局以增大沟道宽度,以及栅氧下部分非沟道区域采用局域氧化技术以减小栅电容的方法,并据此设计了一种元胞结构。详细论述了器件制造过程中的关键工艺环节,包括栅氧化、光刻套准、多晶硅刻蚀、P 阱推进等。流水所得VDMOS 实测结果表明,该器件反向击穿特性良好,栅氧耐压达到本征击穿,阈值电压2.8V,导通电阻仅25m Ω,器件综合性能良好。   1 引言   功率金属- 氧化物- 半导体场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极晶体管(IGBT)、智能
2021-11-05 09:25:37 587KB 一种200V/100A VDMOS 器件开发
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VDmostool软件是一款LTspice中MOS建模软件。它可以从MOS数据手册创建板级mosfet模型,该模型只能在LTspice中使用。 这是因为它利用了称为VDMOS的新mosfet模型,并且仅在LTspice中可用。 该设备替代了子电路模型,子电路模型通常不起作用,即使可以工作,也会因模拟运行太慢而无法完全使用。 LTspice中的VDmos模型不是子电路,而是使用模型语句的新的内置设备模型。 进行了一些改进,从而使模拟运行更快。
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