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植物冷胁迫下ICE-CBF-COR通路中的基因调控和信号转导，王大志，靳亚楠，低温是限制植物生长和生产的关键非生物胁迫因素。植物应答低温依赖于分子调控网络通路及其中的耐冷相关基因。ICE-CBF-COR通路是植物�

高密度脉冲电流作用下热作模具钢温度场和应力场的模拟，林化强，赵宇光，本文利用ansys软件模拟了脉冲电流下热作模具钢温度场和应力场的分布，分析了脉冲电流参数对温度场和应力场的影响

工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定 都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并 且报警。但是只能检测一代内存， 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式，他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍，因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86系列，只要BIOS认的到的容量 他都能测！！ 　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上 述选项才能通过。 　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆　可以测试SD及DDR内存。 ☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带 动它（可解决部分点不亮问题） 。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时， 上述选项才能通过。 ☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试CPU的 L2 cache。

imx6官方提供的ddr的校验工具，只需要配置好，点击校验和压力测试，就能得到各个参数的校验结果。方便快捷。

热应力载荷条件下结构拓扑优化设计，高彤，张卫红，研究了热应力载荷条件下结构拓扑优化设计模型与方法。热应力载荷具有设计相关特性，即热应力载荷的有无取决于结构材料的有无。采

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通过与坐标系的任何方向相关的那个点的描述性应力矩阵，可以传达关于该点应力状态的大量信息。 该程序通过代数运算得出其中一些参数。

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