基于良率最大化的高效SOC测试程序开发，何晖，，本文将讨论一种针对SOC芯片的低成本测试时间减少解决方案，该方案只是在原有的测试平台（V93K）基础上，改良测试方法和提升测试效��

2002年，ITC’02测试集在国际标准测试会议上被正式提出，该电路标准普遍应用于SoC测试优化的相关研究中。包括u226.soc， d281.soc，d695.soc，h953.soc， g1023.soc， p93791.soc等。

《SoC设计和测试技术：理论与实践》是2016年东南大学出版社出版的图书，作者是刘文松。 本书共分7章内容：首先，整体介绍VLSI设计技术的发展现状和重点问题。其次，系统讲述硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等理论知识。第三，融合工程实践，对SoC设计和测试流程中的理念和方法展开论述。 为高清超星格式，自带超星阅读器。

1 SOC测试方法 1.1 放电动态测试 测试设备：BMS，充满电的电池包，充放电设备 测试步骤： 1. 以1c电流放电10分钟，算出安时量 （进步测试需要改变电流，比如0.3c放电3分钟，再以0.5放电3分钟，再以1c放电3分钟算出 ） 2. 查看程序的得到程序算出的 3. 比较 和 得出精度 1. 以1c电流充电10分钟，算出安时量 （进步测试需要改变电流，比如0.3c充电3分钟，再以0.5充电3分钟，再以1c充电3分钟算出 ） 2. 查看程序的得到程序算出的 3. 比较 和 得出精度 soc测试方法