完整英文电子版 JEDEC JESD89A：2006(R2012) Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices(半导体器件中阿尔法粒子和地球宇宙射线引起的软误差的测量和报告)。本规范定义了集成电路的地面软错误率 (SER) 测试和结果报告的标准要求和程序。 描述了实时（非加速）和加速测试程序。 在陆地、地球高度，主要的辐射源包括宇宙射线辐射和来自封装和芯片材料中放射性同位素杂质的 α 粒子辐射。 一个设备的 SER 的整体评估是完整的，只有当一个非加速测试完成，或者已经获得了 alpha 粒子分量和宇宙辐射分量的加速 SER 数据。
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