MIL-STD-883J：器件包括：弹片、多芯片、涂层、混合微电路、微电路阵列、组成电路及阵列的元件等。对这些器件进行基本的环境试验，以确定其抗自然元素有害影响的能力、机械试验及电试演、工艺及培训程序，及为保证产品质量和可靠性的均匀性的必要控制及限制。
2022-04-28 21:30:51
6.23MB
1