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MBIST：测试算法 在MBIST中，重要的测试算法是March算法，包括MATS+、MarchC-、MarchA、MarchB等 例子：MarchC-算法的基本步骤 ↕ (W0)；↑(R0, W1)；↑(R1，W0)；↓(R0, W1)；↓(R1,W0)；↕ (R0) 其中，↕表示操作地址上行或下行，↓表示地址下行，↑表示地址上行，W0和W1分别表示写入“0”和“1”，R0和R1分别表示读出的期望值是“0”和“1”。对每个存储单元进行完括号中包含的所有操作后才处理下一个单元。

Mentor_mbist学习总结

mbist基础理论知识

包括 SRAM存储阵列的内建自测试电路设计与实现_.caj 一种基于Scanchain的BlockRAM的MBIST设计方法.pdf SOC中MBIST结构的设计与实现.pdf 一种可编程MBIST结构的设计与实现.pdf 片上SRAM内建自测试的实现方法.pdf 嵌入式SRAM的可测性设计研究_徐歆.caj 高性能Memory_BIST设计实例_李文琦.caj 基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究_姚俊.caj 存储器内建自测试及内核功能测试研究_范志翔.caj 嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究_王晓琴.caj 嵌入式memory内建自测试算法_任爱玲.caj 存储器内建自测设计与分析_杨修涛.caj 一款通用CPU的存储器内建自测试设计_何蓉晖.caj

包含了 一种Mbist新型算法March_3CL的设计_陈之超.caj 一种基于LFSR与MARCH_C_算法的SRAM内建自测电路设计_焦慧芳.caj 一种基于SRAM内建自测试的改进型March算法设计与验证_王振宇.caj 内建自测试march算法的优化研究_李大龙.caj 基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究_邓一峰.caj 基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究_徐金荣.caj 基于March_C_改进算法的MBIST设计_申志飞.caj 基于March_C_算法的MBIST设计_邓吉建.caj 基于March_C_算法的Memory_BIST设计与实现_翟明静.caj 基于March_C_算法的RAM内建自测试设计_刘兴辉.caj 基于March_C_算法的SRAM_BIST设计_张志超.caj 基于March_C_算法的单片机存储器测试_于文考.caj 基于March_C_算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真_翟明静.caj 基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证_郭明朝.caj 存储器测试算法研究与应用实现_汤志.caj 嵌入式SRAM内建自测试的测试实现_许正义.caj 改进型March算法在内存异常检测中的应用.pdf 改进型March算法在内存异常检测中的应用_曾慧.caj 片上SRAM内建自测试的实现方法_马琪.caj 静态随机存取存储器内建自测试电路的研究与设计_汪坤.caj

Tessent MemoryBIST User's Manual For Use with Tessent® Shell Software Version 2017.4 December 2017

mentor的mbistarchitect工具的guide文档

难得的SOC存储体检测设计说明书，可以多片SRAM共用一个MBIST控制器，完成存储体自检测、自诊断甚至自修复功能。