JTAG调试接口的结构如图1所示。它由测试访问端口TAP（Test Access Port）控制器、旁路（bypass）寄存器、指令寄存器和数据寄存器，以及与JTAG接口兼容的ARM架构处理器组成；处理器的每个引脚都有一个移位寄存单元，称为边界扫描单元BSC（Boundary Scan Cell），它将JTAG电路与处理器核逻辑电路联系起来，同时，隔离了处理器核逻辑电路与芯片引脚；所有的边界扫描单元构成了边界扫描寄存器BSR，该寄存器电路仅在进行JTAG测试有效，在处理器核正常工作时无效。 　　图1 JTAG调试接口示意图 　　（1）TAP（测试访问端口）控制器 　　TAP控制器对嵌