完整英文电子版 JEDEC JESD226：2013 RF BIASED LIFE (RFBL) TEST METHOD（射频偏置寿命 (RFBL) 测试方法）。这种应力方法用于确定射频偏置条件和温度随时间对功率放大器模块 (PAM) 的影响。 这些条件旨在以加速的方式模拟设备的运行条件，预计它们主要用于设备验证和可靠性监控。
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