完整英文电子版JEDEC JEP170:2013 Guidelines for Visual Inspection and Control of Flip Chip Type Components (FCxGA) - 倒装芯片类型组件(FCxGA)的外观检查和控制指南。该出版物提供了在FCxGA组件中观察到的可能对最终用户产品和/或应用产生不利影响的缺陷的描述。 它还将说明可能被视为视觉不合格的其他缺陷,因为这些缺陷对客户产品的质量或可靠性的影响应较小。 最后,它将描述一种用于视觉检查的方法,该方法可用于识别这些缺陷或视觉不合格以及处置指南。 产品验收的官方标准应在实际的产品图纸和规格中。
2021-05-29 09:02:28 319KB JEDEC JEP170 倒装芯片 外观检查