内容概要:本文详细介绍了芯片级ESD(HBM、CDM、MM)和系统级ESD(IEC61000-4-2)的测试标准、方法及测试等级,并深入对比分析了两者之间的差异。芯片级ESD测试主要关注芯片在制造、封装、运输等过程中的抗静电性能,而系统级ESD测试则表征芯片在实际应用环境中所面临的复杂静电环境的抗扰度。文章还探讨了隔离系统中常用的ESD防护设计方法和测试注意事项,强调了系统级ESD测试在实际应用中的重要性。
2025-10-25 11:41:32 3.23MB ESD测试 静电放电
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本文 描述了ESD静电贴环境的搭建,ESD测试标准和ESD的测试方法
2022-11-07 17:35:42 1.3MB ESD测试标准 测试方法
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该标准详细介绍了ESD测试等级,测试条件,并有具体的测试方法。对提高产品的静电抗扰度具有很强的指导意义。GB/T17626.2;接触放电,空气放电;试验等级;静电放电发生器
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