完整英文电子版 EIAJ ED-4701/200：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test II) -半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II）。本标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是寿命试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路（以下统称半导体器件）在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。
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