完整英文电子版 EIAJ ED-4701/001：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(General) -半导体器件的环境和耐久性测试方法(通用)。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法，旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中使用的分立半导体器件和集成电路（以下统称为半导体器件）在各种环境条件下的电阻和耐久性。 在其使用、储存和运输过程中出现的各种条件。
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