本测试方法的目的是定义获得集成电路电气参数的表征、电气分布和参数偏移数据的方法。 该方法的目的是评估部件在正常工艺变化、时间和/或预期应用环境（例如，工作温度范围、电压等）内在规范参数内运行的能力。
2021-07-14 14:02:20
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