完整英文版 IEC 60749-6：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6：Storage at high temperature （半导体器件-机械和气候试验方法-第6部分：高温储存）。IEC 60749-6:2017 用于测试和确定在不施加电应力的情况下在高温下存储对所有固态电子设备的影响。 该测试通常用于确定在存储条件下时间和温度对热激活故障方法和固态电子设备的故障时间的影响，包括非易失性存储设备（数据保留故障机制）。 该测试被认为是非破坏性的，但最好用于设备鉴定。 如果此类设备用于交付，则需要评估这种高度加速的压力测试的影响。 热激活失效机制使用加速的 Arrhenius 方程建模，有关选择测试温度和持续时间的指南可在 IEC 60749-43 中找到。