IEC 60749-1_44 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods -包含全部45份最新英文版标准文件.7z
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完整英文电子版 IEC 60749-1：2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 1：General （半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 1 部分：总则）。适用于半导体器件（分立器件和集成电路），并建立了该系列所有其他部分通用的规定。 2003 年 8 月更正的内容已包含在此副本中。
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