完整英文版 IEC 60747-5-9：2019 Semiconductor devices：Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence （半导体器件：光电子器件 - 发光二极管 - 基于随温度变化的电致发光的内部量子效率测试方法 ）。IEC 60747-5-9:2019(E)规定了无荧光粉的单个发光二极管（LED）芯片或封装的内部量子效率（IQE）的测量方法。用于照明的白光LED不属于本文件的范围。本文件利用在低温和工作温度下测量的相对外部量子效率（EQE），这被称为温度依赖性电致发光（TDEL）。为了确定100%的参考IQE，通过改变环境温度和电流找到EQE峰值的最大值。