STM32控制读取24位ADC芯片ADS1271例程，采用STM32CUBEIDE开发平台，以STM32F401为例,实现高速ADC芯片ADS1271（数据率达到105K SPS）的采样值读取。具体介绍见CSDN博文《STM32 MCO+SPI获取24位模数转换（24bit ADC）高速芯片ADS1271采样数据》：https://blog.csdn.net/hwytree/article/details/131130670 。

采用0.35 um BiCMOS工艺模型，电源电压为3.3 V,使用Cadence下Spectre工具对各单元电路和系统进行了仿真，结果表明各个单元电路均达到了整体性能的要求，对电路的整体仿真结果可以达到12位的精度

在ADC设计中，噪声有多个来源，主要是 ADC 自身的电源，特别是在转换器周围设计和放置的电路走向。通过优化的设计考虑，可以把噪声对高速采集应用的影响最小化。数字电路通常会在其电源线路上产生噪声。如果还使用相同的电源对模拟或混合信号器件进行供电，则此噪声可以通过它们的电源插针耦合至这些元件。从某种程度上来说，它们的模拟或混合信号元件具有良好的电源抑制性能，这不会影响模拟或混合信号元件。 但是，正如数据表上所说明的那样，模拟和混合信号器件的电源抑制比 (PSRR) 通常指具有两个不同稳定直流电源电压的单个参数(例如偏移电压)的差异。此规格很少提及元件在抑制电源上的高频噪声方面如何发挥效能。有了高

在高速数据采集中,高速ADC的选用和数据的存储是两个关键问题。本文介绍一种精度为12位、采样速率达25Msps的高速模数转换器AD9225,并给出其与8位RAM628512存储器的接口电路。由于存储操作的写信号线是关键所在,故给出其详细的获取方法。

随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。

针对高速ADC电路设计的特点,本文重点讨论了包含高速ADC的硬件电路设计中印刷电路板布局时所必须引起注意的电磁兼容问题,包括数字地和模拟地、数字电源和模拟电源的隔离,ADC输入信号、输出信号的处理以及采样时钟的处理等,并给出了一个成功布局的例子。

本文以一些典型的基奉模拟IC为设计基础,着重对延迟锁相环电路的各个单元电路设计逐一进行了分析和研究,并对总体电路进行了功能和参数的模拟分析,其结果较为满意。

超高速ADC通常采用LVDS电平传输数据，高采样率使输出数据速率很高，达到百兆至吉赫兹量级，如何正确接收高速LVDS数据成为一个难点。本文以ADS42LB69芯片的数据接收为例，从信号传输和数据解码两方面，详述了实现LVDS数据接收应该注意的问题及具体实现方法，并进行实验测试、验证了方法的正确性。

目前许多高性能ADC设计均采用差分输入。全差分ADC设计具有共模抑制性能出色、二阶失真产物较少、直流调整算法简单的优点。尽管可以单端驱动，但全差分驱动器通常可以优化整体性能。

基于高速ADC芯片AD9288的DIY手持示波器模拟前端，采样率100M，超频可达125M（本人未测试，但是正点原子以及国内很多手持示波器都是这么做的，双通道分时采样可达250M）。含AD603增益可调运放，不含时钟发生器电路（AD9854）,不含FIFO，文件包含原理图和PCB