文中采用FPGA芯片EP1C3T144C8、DSP芯片TMS320VC5416和单片机STC12C5A60S2作为控制和运算芯片，利用零中频正交解调原理，使用DDS芯片AD9854设计并制作了一款简易频率特性测试仪。该测试仪能够输出100 kHz~50 MHz范围的正交信号，能正确的绘制被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线。可通过键盘以100 kHz为步进频率进行扫频和点频输出。测试仪测给定RLC网络，中心频率的相对误差小于0.1%，有载品质因数相对误差小于2%。测试结果表明，该测试仪设计方案合理，达到了预期的指标要求。本设计形成的硬件电路模块和软件程序可以用于高等学校等的电类课程的实践教学应用。

本文给出了数字式频率特性测试仪系统的硬件设计。采用DDS技术作为扫频信号源，同时采用了集成芯片CD4046对相位进行检测和用运算放大器CA3140及其外围模拟电路对幅度进行检测，用单片机AT89C52进行测量控制和数据处理，使用液晶显示器对测量结果进行图形显示。

根据所学知识按要求完成简易电阻、电容和电感测试仪的设计任务。

本系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心，通过AD637检测信号的有效值，并利用MSP430中自带的A/D芯片对有效值进行采集，通过将输入输出信号进行过零比较整形为方波后，进行相与，计数等操作得到相位差的占空比从而得到相频特性数据；使用双口RAM存储幅频和相频特性数据，最后通过LCD将所得的数据绘制成稳定的波形图

基于单片机的频率特性测试仪.doc

基于单片机的频率特性测试仪.doc

设计了一种基于正交调制原理的数字频率特性测试仪，系统用稳态响应法测量电路的频率特性。单片机作为主控芯片，完成系统的总体控制及数字信号处理；使用集成的直接数字频率合成芯片输出全频率范围内的正弦波。系统对待测电路的输入信号及其输出响应采样，经数字信号处理后，获得电路的幅频特性和相频特性。设计的测试仪测某RLC网络，中心频率的相对误差小于0.2%，有载品质因数相对误差小于1.25%，最大电压增益大于-1 dB。频率特性测试仪输入输出阻抗均为50 Ω，幅频误差绝对值小于0.5 dB，相频误差绝对值小于3°，测试仪

为了更好地利用频率特性测试仪，也称扫频仪(FSI)，测量被测电路网络的幅频特性和相频特性，提出了一种基于 FPGA核心的新型频率特性测试仪设计方案。并在此基础上实现了测量500 Hz至125 kHz带宽的幅频特性和相频特性的功能，各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合，与点频测量法相比较误差在5％以内，并在小型化，数字化，低功耗方面有所特色。

2013年电子设计大赛简易频率特性测试仪设计报告，当时比赛荣获四川省二等奖。

为了对线性时不变系统进行频率特性进行测试，本设计提出了一种低成本、面向学生的频率特性测试仪的设计方案，本仪器为基于FPGA及高速ADC/DAC构建的数字频率特性测试仪系统。其通过DDS产生正弦扫频信号，经高速DAC转换输出，被测网络响应信号由ADC采集后输入FPGA，得出信号经被测网络后产生的幅度变化和相位变化。本仪器具有0~20 MHz的扫频范围、±40 dB输入增益范围、5°相位分辨率、可实时显示被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线，并可将测试结果保存为文件。本设计成本低、易实现、具有较强的可扩展性，可很好地满足目标人群的要求。