IC测试基本理论；分四块 数字集成电路测试基本原理 存储器和逻辑芯片测试原理 混合信号芯片测试原理 射频/无线芯片测试原理

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随着微电子电路工程领域的出现和实质性的进步，电子产品在日常生活中的广泛应用才得以实现。可以在今天开发的微电子电路的类型在物理上小的封装内提供复杂的电路行为。诸如笔记本电脑，移动电话和个人数字助理（PDA）等高价值，高功能便携式电子系统的出现证明了这一点。自从1947年由贝尔实验室（美国）的Bardeen，Brattain和Shockley成功演示晶体管以来，半个多世纪以来，制造包含数百万个晶体管的微电子电路的能力是一项了不起的成就。随着设计复杂性和操作速度的提高，以及为了进一步降低产品成本而改进所使用的工程过程的需求，导致设备设计，制造和测试的所有方面的改进。本书旨在识别和讨论测试工程领域。

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集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试，从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长，提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求，本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点，只需要配合平台搭接简单的测试电路，然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来，并将结果反馈至上位机，使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。

自制万能集成电路测试仪pdf,自制万能集成电路测试仪，用51单片机做的，可以支持74系列·4000系列·运放系列·和接口芯片·静态存储器等芯片测试，目前支持400多个芯片。

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