提出了一种采用覆盖率驱动激励产生算法的验证技术，设计了一套完整的验证平台，成功地验证了一款高频RFID(射频识别技术)芯片。该技术的核心思想是在验证过程中，通过分析功能覆盖率和代码覆盖率，得出未覆盖的边界条件，进而修改激励产生的约束条件，产生测试激励，验证边界条件，以有效地提高验证覆盖率。现该验证平台所验证的芯片已经成功流片，且测试性能优异。