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论文研究-基于良率最大化的高效SOC测试程序开发 .pdf

基于良率最大化的高效SOC测试程序开发，何晖，，本文将讨论一种针对SOC芯片的低成本测试时间减少解决方案，该方案只是在原有的测试平台（V93K）基础上，改良测试方法和提升测试效��

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