完整英文版 IEC 60749-24：2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24：Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST（半导体器件--机械和气候测试方法--第24部分：加速耐湿性--无偏差HAST）。无偏差的高度加速应力测试是为了评估非热包装固态设备在潮湿环境中的可靠性。它采用非冷凝条件下的温度和湿度来加速水分通过外部保护材料或沿着外部保护材料和穿过它的金属导体之间的界面渗透。

完整英文电子版JEDEC JESD22-A102E：2015(R2021) Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave （加速的耐湿性-无偏高压灭菌器）。该测试方法主要适用于耐湿性评估和坚固性测试。 样品在压力下经受冷凝，高湿的气氛，以迫使水分进入包装中，以发现薄弱之处，例如分层和金属化腐蚀。 该测试用于评估新包装或经历了材料（例如，模塑料，模具钝化）或设计（例如，模具/桨尺寸）变化的包装。 但是，此测试不应应用于层压板或基于胶带的包装，即FR4材料，聚酰亚胺胶带或类似产品。

完整英文电子版JEDEC JESD22-A118B.01：2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST（加速的耐湿性-无偏的HAST）。进行无偏HAST的目的是评估潮湿环境中非气密封装的固态设备的可靠性。 这是一项高度加速的测试，它在非冷凝条件下采用温度和湿度，以加速水分通过外部保护材料（密封剂或密封剂）或沿着外部保护材料与通过该保护层的金属导体之间的界面渗透。 在该测试中未应用偏差，以确保可以发现可能因偏见而被遮盖的失效机制（例如，电腐蚀）。 此测试用于确定包装内部的故障机制，并且具有破坏性。