LED的基本结构是一个半导体的P—N结。实验指出，当电流流过LED元件时，P—N结的温度将上升，严格意义上说，就把P—N结区的温度定义为LED的结温。

MMC中IGBT损耗计算与结温模块 计算开关周期内的损耗，公式可以参考 电工技术学报 WXP先生 2018-12-14 的一篇文献，还有一对VT+VD的Foster。 公式及其实现没有问题，仿真过程可参考代码

IGBT作为电力电子领域的元件之一，其结温Tj高低，不仅影响IGBT选型与设计，还会影响IGBT可靠性和寿命。因此，如何计算IGBT的结温Tj，已成为大家普遍关注的焦点。由基本的计算公式Tj=Ta+Rth(j-a)*Ploss可知，损耗Ploss和热阻Rth(j-a)是Tj计算的关键。 　　1. IGBT损耗Ploss计算基础知识 　　                                                                             图1  IGBT导通损耗和开关损耗示意图 　　如上图1所示，IGBT的损耗Pl

INFINEON公司技术人员总结的由IGBT等功率器件上表面温度估算结温的具体方法。

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块的工作性能和可靠性以及逆变器中IGBT模块散热系统的设计等均与其工作结温直接相关，掌握器件的结温状况对于确保其安全可靠的使用和冷却装置的合理选择具有重要意义。推导获得基于数学方法的IGBT模块损耗模型和实现热电模拟的Foster热网络模型，基于此在MATLAB/Simulink中建立了简单实用的三相逆变器中IGBT模块结温仿真评估模型，同半导体器件制造商软件计算方法相比，加入了热电耦合因素，可以更真实地模拟器件芯片结温状况，并分析了不同负载工况下IGBT模块结温的变化趋势

摘要：本文将虚拟仪器应用于LED 结温和光衰的测量中，以LabVIEW 为平台开发的LED结温与光衰监测系统，以计算机为核心，配上传感器、数据采集卡和相应软件，对LED 的工作电压、工作电流以及LED 的光照度变化进行监测，实现了自动、连续、在线测量并记录数据，将结果以图形和数字两种方式显示。本系统还有简单实用、高精度、高灵敏度等特点，安全可靠，维护方便快捷，具有很好的可扩展性和应用前景，能够适用于实验室和室外众多环境。 　　1．引言 　　白光LED 固体光源具有传统光源不可比拟的优势：节能、环保、长寿命、安全可靠等，成为未来照明的趋势。但LED 的PN 结温度对LED 的性能有着重要的影

行业资料-电子功用-一种功率器件结温控制电路及主动热管理方法

高压大功率器件结温在线测量方法综述_陈杰.pdf

根据输入的电压电流IGBT型号等参数，计算相应拓扑下的IGBT结温与损耗