文中采用FPGA芯片EP1C3T144C8、DSP芯片TMS320VC5416和单片机STC12C5A60S2作为控制和运算芯片，利用零中频正交解调原理，使用DDS芯片AD9854设计并制作了一款简易频率特性测试仪。该测试仪能够输出100 kHz~50 MHz范围的正交信号，能正确的绘制被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线。可通过键盘以100 kHz为步进频率进行扫频和点频输出。测试仪测给定RLC网络，中心频率的相对误差小于0.1%，有载品质因数相对误差小于2%。测试结果表明，该测试仪设计方案合理，达到了预期的指标要求。本设计形成的硬件电路模块和软件程序可以用于高等学校等的电类课程的实践教学应用。

本简易电路特性测试仪主要包括输入测量电路、被测电路、输出测量电路、和STM32单片机四个部分。输入测量部分和输出测量部分包括运算放大电路和全波整流电路。采用OP27芯片进行放大、AD637芯片进行整流，再通过STM32单片机对测量电路进行采样分析。可以准确测量输入电阻、输出电阻、放大器增益和幅频特性曲线，并能判断放大器电路元器件变化而引起故障或变化的原因。

2019年D题简易电路特性测试仪原理图+源程序+报告+硬件仿真

本文给出了数字式频率特性测试仪系统的硬件设计。采用DDS技术作为扫频信号源，同时采用了集成芯片CD4046对相位进行检测和用运算放大器CA3140及其外围模拟电路对幅度进行检测，用单片机AT89C52进行测量控制和数据处理，使用液晶显示器对测量结果进行图形显示。

根据所学知识按要求完成简易电阻、电容和电感测试仪的设计任务。

本系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心，通过AD637检测信号的有效值，并利用MSP430中自带的A/D芯片对有效值进行采集，通过将输入输出信号进行过零比较整形为方波后，进行相与，计数等操作得到相位差的占空比从而得到相频特性数据；使用双口RAM存储幅频和相频特性数据，最后通过LCD将所得的数据绘制成稳定的波形图

半导体器件(如晶体管)是电子产品的基础。在各种研发背景中的大多数器件需要进行电气特性分析，如研究实验室、晶圆厂、大学、器件制造商等。分立晶体管用于功率管理、电压调节、开关和电信（射频）功率放大器等诸多应用 。 近年来通信业增长迅猛。对更宽带宽和更大移动性的需求是通信业创新的主要动力。通信集成电路是持续创新的关键。对于旨在传输和接收数据的无线网络而言，在高频段放大信号的能力至关重要。 这个任务通常是利用射频功率放大器和低噪声放大器实的。

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