本书阐述了设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片（ASIC）的设计。本书适合IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。本书的具体内容有：集成电路发展史及SOC设计所面临的挑战；SOC设计、SOC模型。

思博伦测试方法学,系统的网络设备测试方法论

集成电路SoC设计介绍，介绍不同SoC设计模型，和设计分层概念；介绍SoC设计验证相关知识，同时，介绍了SoC测试需要掌握的知识和相关工具...

本书系统介绍超大规模集成电路（VLSI）的测试方法学和的可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，*和伪*测试原理，各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与MY邓列相关的其他测试生成方法，内建自测度原理，各种数据压缩结构和压缩关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。 本书既可作为人一集成电路设计、制造、测试、应用，EDA和ATE专业人员的参考用书，也可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课程教材。

一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计