针对特殊有源区图形设计的Direct STI CMP工艺控制方式优化，张守龙，程秀兰，本文根据实际生产需求，解决了特殊有源区图形设计的产品在Direct STI CMP生产中无法通过终点探测技术(EPD)进行工艺控制的问题。通过分��