完整英文版 IEC 60068-2-82:2019 Environmental testing - Part 2-82:Tests - Test Xw1:Whisker test methods for components and parts used in electronic assemblies(环境测试--第2-82部分:测试--测试Xw1:电子装配中使用的组件和零件的晶须测试方法)。IEC 60068-2-82:2019规定了代表成品阶段的电气或电子部件和机械部件(如跳线、静电放电保护罩、机械固定件、压接销和其他电子装配中使用的机械部件)的表面光洁度的测试,其表面有锡或锡合金光洁度。在规定的测试流程中,模具化合物、塑料等的物理尺寸变化不被考虑或评估。
2021-11-22 10:01:53 2.87MB IEC 60068-2-82 环境测试 测试Xw1
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完整英文电子版JEDEC JESD22-A121A(R2019) Test Method for Measuring Whisker Growth on Tin and Tin Alloy Surface Finishes(测试锡和锡合金表面处理中晶须生长的测试方法)。本标准的目的是: 1,提供行业标准化的测试套件,用于测量和比较不同镀层或表面化学和工艺的晶须倾向。 2,提供锡晶须检查的一致检查方案。 3,提供标准的报告格式。
2021-05-29 09:02:23 769KB JEDEC JESD22-A121A 测试 晶须